반도체 및 디스플레이 검사 장비 전문 기업 Seichi Tech가 SID Display Week 2026에서 Micro OLED와 Micro LED 양산을 겨냥한 통합 검사 솔루션을 선보였다. Seichi Tech는 2011년 설립된 Shenzhen SEICHI Technologies Co., Ltd.로, 반도체와 디스플레이 산업용 테스트 장비 및 시스템 솔루션을 제공하고 있으며, 2023년 중국 SSE STAR Market에 상장했다. 회사는 약 1,000명의 임직원 중 700명 이상을 기술 인력으로 확보하고 있으며, 550건 이상의 지식재산권과 200건 이상의 발명특허를 보유하고 있다.
SID 2026에 마련된 Seichi Tech 부스 전경이다. 회사는 Micro OLED와 Micro LED 양산을 겨냥한 통합 검사 솔루션을 전시했다. (출처: 유비리서치)
이번 전시에서 Seichi Tech가 부각한 핵심 강점은 Micro Display 공정 전반을 커버하는 검사 장비 포트폴리오다. 회사는 Wafer AOI, Wafer ATE Tester, Module PG, SLT 장비, Micro Display Burn-in, Near Eye Display Testing 장비, 고해상도 Colorimeter 및 Luminance Meter를 통해 웨이퍼 검사부터 모듈 검사, De-mura, Burn-in, 최종 NED 테스트까지 대응 가능한 솔루션을 제시했다.
특히 127M Microscopic Detection System은 Micro LED, Mini LED, OLED, AR/VR 디스플레이의 휘도, 색도, 스펙트럼을 고해상도로 측정할 수 있는 장비다. 127MP 초고해상도 이미징, 필터 휠 기반 색도 측정, 미세 픽셀 대응 현미경 렌즈, 이미징과 스펙트럼의 복합 보정 기능을 갖춘 것이 특징이다. Micro OLED와 Micro LED는 픽셀 크기가 작고 결함 판정 기준이 엄격하기 때문에, 2μm 이하 픽셀 검출과 정밀 휘도·색도 측정 기술은 양산 수율 확보의 핵심 요소로 평가된다.
Seichi Tech는 자동화와 양산 대응력도 강조했다. Wafer AOI는 DIE 점등 상태에서 이미지를 검사하며, SLT 장비는 패키징된 Micro LED/OLED 모듈의 De-mura, 외관 검사, 휘도 AOI와 자동 등급 분류를 수행한다. Micro Display Burn-in 장비는 자동 정렬, 압착, 캐리어 가열, 이상 감지, MES 연동 기능을 통합해 실제 양산 환경에 대응한다.
SID2026 전시는 Seichi Tech가 단순 검사 장비 공급업체를 넘어, Micro OLED와 Micro LED의 양산 병목을 해결하는 통합 테스트 솔루션 기업으로 입지를 확대하고 있음을 보여준다. XR, AR 글래스, Near Eye Display 시장이 상용화 단계로 진입하면서, 정밀 검사·보정·Burn-in 장비의 중요성은 더욱 커질 전망이다.
유비리서치 한창욱 부사장/애널리스트(cwhan@ubiresearch.com)
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